1. Cechy

1.1. Zastosowano szybki mikrokontroler MCU i zaawansowany algorytm, aby zapewnić dokładność i wydajność pomiaru. Przyrząd obsługuje szybki pomiar i pomiar ciągły, a prędkość pomiaru może osiągnąć 0,3 s/raz.

1.2.Spełnia normy ISO2178 ,DIN, ASTM i BS..

1.3. Odporna na zużycie metalowa sonda może zapewnić stabilne dane podczas pomiaru na twardych lub szorstkich powierzchniach, a sonda zużywa się ponad 500 000 razy.

1.4.Użyj wyświetlacza LCD, aby zapewnić dobry efekt wizualny.

1.5.Przyrząd może mierzyć grubość powłoki cynkowej (warstwy ocynkowanej) o grubości nawet 1μm.

1.6.Obsługuje wyświetlanie w jednostkach wagi powłoki cynkowej g/m².

2. Parametry techniczne

* Standardowy zakres pomiarowy: 0~1500μm, Rozdzielczość: 0,1μm (0-99,9μm), 1μm (100-1500μm)

* Dokładność pomiaru: ±2%H+1μm

* Najcieńszy podłoże: 0,3 mm

* Minimalna krzywizna: wypukła 5 mm/wklęsła 25 mm

* Zasilanie: 2×1,5 V baterie AAA

* Opcje jednostek: μm / mil

* Tryb pomiaru: Pojedynczy/Ciągły

* Rozmiar produktu: 101×61×26 mm

* Waga produktu: 54 g (bez baterii)

3.Lista pakowania

* Urządzenie główne × 1

* Podłoże żelazne × 1

* Bateria AAA × 2 (nie dołączona w przypadku wysyłki lotniczej)

* Filmy standardowe × 5 (50 100 250 500 1000μm)

* Instrukcja × 1

* Karta gwarancyjna × 1

* Pudełko do pakowania × 1